Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine leistungsfähige Technik zur Untersuchung der Oberflächenstruktur und -morphologie von Materialien auf mikroskopischer Ebene. Bei dieser hochauflösenden Bildgebungsverfahren werden Elektronenstrahlen verwendet, um ein detailliertes Bild der Oberfläche eines Objekts zu erzeugen. Im Vergleich zu herkömmlichen Lichtmikroskopen bietet die REM eine deutlich höhere Auflösung und ermöglicht es, Strukturen im Bereich von Nanometern zu betrachten.

Unsere Metallographie verfügt über 2 moderne Rasterelektronenmikroskope, die mit verschiedenen Detektoren ausgestattet sind, um eine breite Palette von Anwendungen abzudecken.