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Oberflächenprüfungen

Dr. Johannes Diller

Tel.: +49 8106 99 41 30

E-Mail: johannes.diller@gwp.eu

Unsere Mirkoskope:

Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine leistungsfähige Technik zur Untersuchung der Oberflächenstruktur und -morphologie von Materialien auf mikroskopischer Ebene. Bei dieser hochauflösenden Bildgebungsverfahren werden Elektronenstrahlen verwendet, um ein detailliertes Bild der Oberfläche eines Objekts zu erzeugen. Im Vergleich zu herkömmlichen Lichtmikroskopen bietet die REM eine deutlich höhere Auflösung und ermöglicht es, Strukturen im Bereich von Nanometern zu betrachten.

Unsere Metallographie verfügt über 2 moderne Rasterelektronenmikroskope, die mit verschiedenen Detektoren ausgestattet sind, um eine breite Palette von Anwendungen abzudecken.

Bildergallerie Rasterelektronenmikroskopie

REM mit Energiedispersive Röntgenspektroskopie (Energy-dispersive X-ray spectroscopy)

Bei der Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit dem Probenmaterial entsteht eine charakteristische Röntgenstrahlung mit der die chemische Zusammensetzung qualitativ sowie semiquantitativ bestimmt werden kann.

Punkt- und Integrale Analysen
X
Bei der Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit dem Probenmaterial entsteht eine charakteristische Röntgenstrahlung mit der die chemische Zusammensetzung qualitativ sowie semiquantitativ bestimmt werden kann. Für die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung werden überwiegend Punkt- und integrale Analysen verwendet.
Linescan
X
Durch das Abrastern der Probe mit dem Elektronenstrahl können Linescans erstellt werden. Beispielsweise zur Analyse von Schichtaufbauten.
Elementverteilungsbild Mapping
X
Durch das Abrastern der Probe mit dem Elektronenstrahl bei gleichzeitiger EDX Messung können Elementverteilungsbilder. Die Mappings sind besonders interessant, da Sie sehr anschaulich vorliegende die Unterschiede in der Zusammensetzung in Zusammenhang mit der Struktur darstellen.

Unsere Leistungen Rasterelektronenmikroskopie

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