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Neues Rasterelektronenmikroskop im Analytikum der GWP!

Um Ihre Anfragen schnell und zuverlässig bearbeiten zu können hat die GWP sich entschlossen in ein zweites Rasterelektronenmikroskop zu investieren. Mit unserem neuen JEOL JSM-6610LV steht nunmehr ein zeiteres REM mit leistungsstarker Elektronenoptik mit bis 120.000 facher Vergrößerung zur Verfügung. Das Gerät besitzt eine überdurchschnittlich große Probenkammer, so dass wir auch größere Bauteile (Ø 300 mm) zerstörungsfrei untersuchen können.
Das neue JEOL ist mit einer Wolfram-Kathode bestückt und kann bei Beschleunigungsspannungen zwischen 0,3 und 30kV betrieben werden.  Selbstverständlich ist auch der Betrieb im Low-Vakuum-Modus möglich, wodurch auch nicht leitende Proben untersucht werden könne.
Des Weiteren beinhaltet es ein vollständig integriertes energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX) um Elementanlysen  oder Elementmapping durchzuführen.

Haben Sie Fragen ….? â€“ Dann sprechen Sie mit uns über den Einsatz des Rasterelektronenmikroskops für Ihre Untersuchungen – wir nehmen uns gerne Zeit für ein unverbindliches Fachgespräch: 

Markus Rücker,Oberflächen, +49 (0)8106 994 116, undefinedEmail 

Max Diedering, Leitung Laborservices, +49 (0)8106 994 114, undefinedEmail 

Übrigens: unsere Labore sind nach DIN ISO EN17025 akkreditiert für die Bereiche Werkstofftechnik und chemische Analytik

 

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