Kontaminationsanalyse

Eine häufige Ursache für fehlerhafte Klebungen sind Kontaminationen der Fügeteiloberfläche. Fremdstoffe können zum Beispiel von einem Trennmittel oder Ölablagerungen stammen und die Haftungskräfte vermindern. Zur Detektion von Kontaminationen werden bei der GWP u.a. ToF-SIMS Analyse und FTIR-Spektroskopie angewendet.

Die Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) dient zur Detektion von oberflächlichen Verunreinigungen im Spurenbereich. Mittels der FTIR-Spektroskopie ist es möglich organische Substanzen zu identifizieren und zu vergleichen.

IR-Spektroskopie
IR-Spektroskopie
IR-Spektrum
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